第三屆由田機器視覺獎

競賽項目:
【創新類】機器視覺/自動光學檢測
【解題類】面板瑕疵檢測
【試賽類】人臉偵測
報名時間: 即日起至 7/31 (四) 18:00 止
繳件時間: 即日起至 8/27 (三) 18:00 止
競賽獎勵:
【創新類】第一名獎金新台幣 20 萬元
【解題類】第一名獎金新台幣 25 萬元
【試賽類】第一名可獲 Wii 遊戲機一台